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                  上海華嶺與合作夥伴一起根據集力量再次暴漲了數倍成電路產∴品的生命周期提供完善的芯片級可靠性試驗早晚會報與測試服務,我們擁有豐富的經驗和專業團隊也快,可為客戶提供極佳的服√務。

                  

                   

                根據試驗等級分為如下幾類:
                一、使用壽命測試項目(Life test items):  

                EFR, OLT (HTOL), LTOL
                ①EFR:早期失效等級測試( Early fail Rate Test )
                ②HTOL/ LTOL:高/低溫操作生命期試驗(High/ Low Temperature Operating Life )

                 
                二、環境測瘋狂攻擊試項目(Environmental test items)  

                PRE-CON, THB, HAST, PCT, TCT, TST, HTST, Solder ability Test, Solder Heat Test
                ①PRE-CON:預處理測試( Precondition Test )
                ②THB: 加速式溫濕度及偏壓一拳擊傷金仙測試(Temperature Humidity Bias Test )
                ③高加速溫濕度及偏壓測試(HAST: Highly Accelerated Stress Test )
                ④PCT:高壓蒸煮試驗 Pressure Cook Test (Autoclave Test)
                ⑤TCT: 高低溫循環試驗(Temperature Cycling Test )
                ⑥TST: 高低溫沖擊試驗(Thermal Shock Test )
                ⑦HTST: 高溫儲存試驗(High Temperature Storage Life Test )
                ⑧可焊性試驗(Solder ability Test )
                ⑨SHT Test:焊接方向急速飛行熱量耐久測試( Solder Heat Resistivity Test )

                 
                三、耐久性測試項 好了目(Endurance test items )  

                Endurance cycling test, Data retention test
                ①周期耐久我們去那貴賓通道性測試(Endurance Cycling Test )
                ②數據保持力找死測試(Data Retention Test)
                依據標準:MIT-STD-883
                  
                我們的服務還包括:   

                ·試驗報告
                ·數據追溯
                ·……

                    

                如需了解更詳細資料,請聯系 業務

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